Наукова електронна бібліотека
періодичних видань НАН України

Перегляд за автором "Кисловський, Є.М."

Репозиторій DSpace/Manakin

Перегляд за автором "Кисловський, Є.М."

Сортувати за: Порядок: Результатів:

  • Скакунова, О.С.; Пилипів, В.М.; Владімірова, Т.П.; Оліховський, С.Й.; Молодкін, В.Б.; Остафійчук, Б.К.; Кисловський, Є.М.; Решетник, О.В.; Лізунова, С.В. (Металлофизика и новейшие технологии, 2013)
    Методою високорозрізняльної Рентґенової дифрактометрії виміряно криві дифракційного відбивання (КДВ) від монокристалів ґадоліній-ґалійового ґранату Gd₃Ga₅O₁₂, яких було імплантовано різними дозами йонів F⁺ з енергією 90 ...
  • Владімірова, Т.П.; Пилипів, В.М.; Остафійчук, Б.К.; Кисловський, Є.М.; Молодкін, В.Б.; Оліховський, С.Й.; Скакунова, О.С.; Решетник, О.В.; Лізунова, С.В. (Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2011)
    Обчислено комплексні Фур’є-компоненти поляризовности досконалого кристалу неодим-ґалійового ґранату (НҐҐ) Nd₃Ga₅O₁₂ для набору рефлексів і двох характеристичних довжин хвиль Рентґенового випромінення. Встановлено залежності ...
  • Скакунова, О.С.; Оліховський, С.Й.; Молодкін, В.Б.; Лень, Є.Г.; Кисловський, Є.М.; Решетник, О.В.; Владімірова, Т.П.; Кочелаб, Є.В.; Лізунов, В.В.; Лізунова, С.В.; Маківська, В.Л.; Толмачов, М.Г.; Скапа, Л.М.; Василик, Я.В.; Фузік, К.В. (Металлофизика и новейшие технологии, 2015)
    З використанням раніше відкритого авторами явища дисперсійної (фазової) структурної чутливости картини багаторазового розсіяння створено теоретичні й експериментальні основи трикристальної динамічної дифрактометрії ...
  • Молодкін, В.Б.; Сторіжко, В.Ю.; Лізунова, С.В.; Шелудченко, Б.В.; Лізунов, В.В.; Толмачов, М.Г.; Кисловський, Є.М.; Оліховський, С.Й.; Вершинський, С.О.; Денисенко, В.Л.; Фузік, К.В.; Веліховський, Г.О.; Лехняк, Р.В.; Лень, Є.Г.; Скапа, Л.М.; Бровчук, С.М. (Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2015)
    В роботі проведено детальну порівняльну аналізу ряду наявних метод фазоконтрастної томографії та можливостей їх застосування для медичної діягностики.
  • Пилипів, В.М.; Остафійчук, Б.К.; Владімірова, Т.П.; Кисловський, Є.М.; Молодкін, В.Б.; Оліховський, С.Й.; Решетник, О.В.; Скакунова, О.С.; Лізунова, С.В. (Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології, 2011)
    Створено теоретичну базу сучасної кристалографії реальних монокристалів зі складним базисом, яка враховує наявність різних структурних дефектів і дозволяє самоузгодженим чином описувати когерентну і дифузну складові ...